探伤仪
上海非晶硅平板检查仪真晶平板检查仪不二之选
2024-04-12 15:30  浏览:171
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  ➤上海非晶硅平板检查仪真晶平板检查仪不二之选属于仪器仪表中的无损检测仪器中的探伤仪

 上海非晶硅平板检查仪真晶平板检查仪不二之选

1、灵活多变的有线、无线模式使得1417A可适用于各种不同的DR场景。在使用同步盒(RB)的情况下(STP模式),PC与RB之间,RB与FP之间均可通过有线或无线连接;在不使用RB的情况下(AP模式),PC与FP之间亦可通过有线或无线连接、此六种工作模式之间均可无缝切换。

 

2、上海非晶硅平板检查仪真晶平板检查仪的功耗超低仅为5W,可不充电连续工作12小时(每分钟拍摄一帧图像),足以应对一个繁忙的放射科室一整天的工作。超低功耗同事确保了平板更低的温升,从而进一步降低了图像电子噪声并延长了产品寿命。

 

3、通过可编程同步盒,宽容的曝光时间窗口,以及在不同客制图像采集时序条件下高度一致的图像性能,1417A可与所有现有高压发生器便捷连接。

 

4、可自动同步图像采集与X射线曝光而无需与高压发生器进行任何物理连接。这种自动曝光同步不借助于任何额外的传感器,而是通过探测器面板自身实现。因而可在成像区域内全方位、高度灵敏的感知X射线。

 

5、从设计伊始就不遗余力确保图像采集和传输的稳定性。RIA包括:命令和反馈通过特定的RUDP协议进行高效、无损的通讯;图像数据传输通过优化的TCP/IP协议确保数据完整性;即使在极端糟糕的网络条件下,图像数据也会完整的保存在内部存贮器中不至丢失,待网络恢复正常后继续传输。
2529A平板探测器

一、产品规格

 

用途

普通X线摄影

方法

平板探测器:闪烁体和非晶硅(a-Si)

传感器

(大面积新型MIS传感器和TFT)

闪烁体

GOS(Gd2O2S:Tb)

像素间距

160×160微米

有效像素

1,464×1,776像素(260万像素)

图像尺寸

43×36cm (14×17 in.)

 A/D

14位

预览时间

X光曝光后约3-5秒

 接口

DICOM 3.0,以太网10/100 base TX

DICOM *

兼容DICOM3.0打印管理类(SCU),存储服务类(SCU)和其他

 电压

100-240V(50/60Hz)

 能耗

170VA

操作环境

传感器单元:5-35℃(41-95°F),30-75% RH(无结露)

参数

FDA510(k),UL60601-1,EN60601-1,CE0197

 尺寸

传感器单元(W×L×T):344×380×22.5mm (14×15×0.9 in.)

 重量

传感器单元:2.7 kg (5.9 lb.)

标准配件

传感器单元、电源盒、遥控开关

联系方式
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