➤可控硅综合参数测试仪属于仪器仪表中的电工仪器仪表中的参数测试仪器类

核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产，公司产品主要有：

MOSFET参数测试设备：

静态参数测试（包括IGSS / B_VR / V_DS（Sat） / I_DSS / V_GSTH / V_F / R_DS（on））；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/安全工作区）测试（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；雪崩能力测试，老化及可靠性测试（HTRB / HTGB）。

IGBT参数测试设备：

静态参数测试（包括I_GE / V_GE(th) / V_CEsat / V_F / I_CE / V_CE）；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/安全工作区）测试（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；老化及可靠性测试（HTRB / HTGB）。

二极管及可控硅/晶闸管（SCR）参数测试设备：

静态参数测试（包括I_GT/V_GT / I_H / V_TM / V_D/I_D / V_R/I_R / dv/dt / I_L ）；动态参数测试（Turn_on&off / Qrr_FRD）；浪涌参数测试I_TSM；di/dt测试；老化及可靠性测试（高温阻断）；热阻参数测试Rth。

产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势，将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。