仪器仪表
作物株高与作物株高测量仪的简要介绍
2021-03-19 23:19  浏览:125

 

株高与作物倒伏有一定的联系,相对来说,高秆的作物更容易倒伏。但是过分矮化的植株会致使叶层密集、相互遮阴,导致群体内光照不足、通风不畅、病虫害加重,不利于作物生长。

适当的矮化植株,不仅可以预防倒伏,更主要的是削减了部分茎、叶鞘的生长,使拔节后幼穗的生长发育有较优越的条件,将更多的光合产物用于籽粒生长。

 

有学者认为株高作为作物的一个重要形态性状,虽不直接构成产量,但与群体大小、个体优劣以及收获指数等密切相关,是高产的重要影响因素。借助作物株高测量仪可快速地测量小麦、水稻等矮秆作物的株高,该仪器测量方便、简单,可应用于作物育种实验以及农艺生产中。

 

托普TPDM-G-1作物株高测量仪由测量杆、手机、识别软件组成,其测量区间在1.5米以内。它通过手机拍照获取作物图像,自动识别株高刻度数据,可通过电脑、手机随时查看测量数据。测量杆外壳材质采用铝合金,仪器配有一台手机、一套测量杆,测量误差控制在10毫米以内,实现了作物株高测量的自动化。

 

托普云农作为农业物联网设备供应商,研发了几十种传感器和上百种智能装置,除用于测量矮秆作物的TPDM-G-1型株高测量仪,还供应测量高粱、玉米、甘蔗等高秆作物的TPYM-G-1型作物株高测量仪。相较于前者,后者可测量的范围提升到了1.6米到5米。

 

产品详情:

作物株高测量仪http://www.tpyn.net/products_T102.html

中国农业仪器网http://www.tpyn.net/

 

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